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模组测试及编码机

· 支持接触式模块、非接触式模块、双界面模块测试及数据下载
· 该设备最多可支持 180 个接触式读卡器或 60 个非接触式读卡器
· 在线重写。

  • 信息


产品介绍


介绍模块测试及编码机:

  • MET-E主要用于IC芯片个性化数据写入前的准备,旨在通过缩短数据写入时间来提高产能,首先对芯片进行电性能测试、COS及初始化数据写入,为后续的个性化数据写入流程提供依据。

  • 该设备支持接触式、非接触式及双接口芯片模块条带,满足不同类型芯片的需求,客户可根据实际生产需要选择合适的模块配置,提高灵活性和适应性。

  • 此外,MET-E还提供选配的断枪模块,可根据客户需求定制模具枪头数量,进一步优化生产流程和效率。

Chip Module Test System


主要职能 模组测试及编码机


Chip Module Test machine

主要书写机制

配置120个编程站(读写器)或者180个编程站,可同时对120个8针模块芯片或者180个6针模块芯片进行数据写入。

Chip Module Encoding Machine

重写机制

当主写入机构完成对芯片的写入后,在重写机构处对写入失败的芯片进行重新写入。

Chip Module Test System

冲孔机构

模块条带中无法改写芯片在打孔机构处被打孔并标记。

容量表


个性化时间(S)5
1015202530354045
生产能力(UPH)8PIN 120头4900031000230001800015000128001100098008900
6PIN 180头620004200032000250002100018000160001400013000
无连接 60 头4710027000119300149001200010200870078006900


参数表


设备尺寸及规格
尺寸
4000×800×1500mm(长×宽×高)
重量约350kg
电源
  • 220V(-5%~+10%),50Hz

  • 3KW(主机)

  • 平均负载为主设备功率的30%

气源
  • 压力:0.5Mpa

  • 流量:10L/min

托盘规格料盘厚度40~65mm
带材尺寸规格
  • 厚度:0.165mm

  • 宽度:3.5mm

  • 长度:无限制

探针寿命30万次


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