
模组测试及编码机
· 支持接触式模块、非接触式模块、双界面模块测试及数据下载
· 该设备最多可支持 180 个接触式读卡器或 60 个非接触式读卡器
· 在线重写。
- 信息
产品介绍
介绍模块测试及编码机:
MET-E主要用于IC芯片个性化数据写入前的准备,旨在通过缩短数据写入时间来提高产能,首先对芯片进行电性能测试、COS及初始化数据写入,为后续的个性化数据写入流程提供依据。
该设备支持接触式、非接触式及双接口芯片模块条带,满足不同类型芯片的需求,客户可根据实际生产需要选择合适的模块配置,提高灵活性和适应性。
此外,MET-E还提供选配的断枪模块,可根据客户需求定制模具枪头数量,进一步优化生产流程和效率。

主要职能 模组测试及编码机

主要书写机制
配置120个编程站(读写器)或者180个编程站,可同时对120个8针模块芯片或者180个6针模块芯片进行数据写入。

重写机制
当主写入机构完成对芯片的写入后,在重写机构处对写入失败的芯片进行重新写入。

冲孔机构
模块条带中无法改写芯片在打孔机构处被打孔并标记。
容量表
个性化时间(S) | 5 | 10 | 15 | 20 | 25 | 30 | 35 | 40 | 45 | |
生产能力(UPH) | 8PIN 120头 | 49000 | 31000 | 23000 | 18000 | 15000 | 12800 | 11000 | 9800 | 8900 |
6PIN 180头 | 62000 | 42000 | 32000 | 25000 | 21000 | 18000 | 16000 | 14000 | 13000 | |
无连接 60 头 | 47100 | 27000 | 119300 | 14900 | 12000 | 10200 | 8700 | 7800 | 6900 |
参数表
设备尺寸及规格 | |
尺寸 | 4000×800×1500mm(长×宽×高) |
重量 | 约350kg |
电源 |
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气源 |
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托盘规格 | 料盘厚度40~65mm |
带材尺寸规格 |
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探针寿命 | 30万次 |
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